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Quelle est l'influence d'une température ambiante élevée sur les mémoires à semi-conducteurs du circuit intégré RFID ?

Dans le cadre de l'utilisation de nos transpondeurs, nous avons élaboré un grand nombre d'informations de fond sur le montage, la fonction, la conception, le comportement en service, etc. en raison des nombreuses applications dans lesquelles les produits sont utilisés. En complément de notre fiche technique Informations sur le produit Transpondeurs RFID HF, ce article contient des explications techniques supplémentaires et des informations d'aide à l'application.

 

Chaque IC RFID possède une quantité limitée de mémoire de données dans laquelle sont stockées des informations numériques. Le code d'identification unique (unique identifier, UID) de chaque puce RFID est programmé dans la mémoire, par exemple par le fabricant du CI. Cela permet de garantir qu'il n'existe pas de deuxième transpondeur portant un UID identique. En outre, l'UID donne des informations sur le fabricant et le type de CI RFID utilisé. Cette information est enregistrée dans le CI de manière inaltérable. 

En plus de l'UID, la plupart des CI RFID disposent d'une autre zone de mémoire que l'utilisateur peut programmer à sa guise pour son application (user memory). 

Toutes les zones de mémoire du semi-conducteur sont soumises au vieillissement. Les fabricants de CI RFID indiquent dans la fiche technique la durée de conservation des données en cas de respect d'une température de fonctionnement maximale, par exemple 50 ans à +55° C maximum (data retention time). Le vieillissement s'accélère dès que le CI RFID est exposé à des températures ambiantes supérieures à la température maximale indiquée pour ce paramètre.

Étant donné que nos transpondeurs RFID sont souvent exposés à des températures ambiantes supérieures à +55° C dans le cadre de leur utilisation, il est très intéressant de savoir à quelle valeur se réduit le temps de rétention des données dans l'application concernée.

La dépendance de la température du temps de conservation des données peut être décrite par la courbe caractéristique suivante :

neosid_graph_data-retention-time-temperature

En ce qui concerne le temps de conservation des données en cas de dépassement de la température spécifiée de +55° C, il n'existe généralement pas d'indications claires de la part des fabricants de circuits intégrés RFID. Les indications que nous donnons sur le temps de conservation des données se basent sur des études internes dans lesquelles nos transpondeurs sont utilisés à des températures ambiantes élevées et sur les déclarations techniques des fabricants de puces. 
Les valeurs mentionnées sont indicatives et servent de référence.

Nous avons réuni les exemples d'application suivants. Après avoir effectué le nombre de cycles indiqué, la conservation des données de la cellule de mémoire peut théoriquement être épuisée :

  • ╸ 1,5 h @   +80° C après 20000 Zyklen

  • ╸ 1,5 h @ +110° C après 12500 Zyklen

  • ╸ 1,5 h @ +134° C après 10000 Zyklen

  • ╸ 1,5 h @ +150° C après 6000 Zyklen

  • ╸ 1,5 h @ +180° C après 870 Zyklen

  • ╸  90 h @ +180° C après 14 Zyklen

  • ╸    5 h @ +200° C après 100 Zyklen

  • ╸    2 h @ +220° C après 167 Zyklen

 

Après l'expiration du temps de conservation des données, il est possible que le contenu des cellules de mémoire à semi-conducteurs subisse des modifications. Pour prévenir la perte de données, le temps de conservation des données doit être respecté dans l'utilisation du transpondeur RFID.

 

 

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PDF: „Informations techniques NeoTag 4-0922